解決LTE手機(jī)射頻信道衰落測試方案
隨著全球蜂窩通信網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營商逐步采用LTE,滿足所有LTE要求的需求也在增長,其中包括衰落特性。第三代合作伙伴計(jì)劃(3GPP) 在其TS 36.521-1標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了衰落的技術(shù)規(guī)格,用以測量LTE手機(jī)的衰落特性。
傳統(tǒng)衰落特性測試方法采用外部衰落模擬器和噪聲源,通過常規(guī)射頻測試設(shè)備修改信號。這種設(shè)備顯著增加了整個測試系統(tǒng)的成本,并且需要額外的軟件控制并協(xié)調(diào)各個儀器。本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設(shè)備所產(chǎn)生的成本,同時提高測量精度并縮短測試時間。
模擬信號衰落
如圖1所示,實(shí)際系統(tǒng)環(huán)境下,發(fā)射機(jī)與接收機(jī)之間存在無數(shù)條路徑。顯然,不可能模擬所有路徑,但為了滿足測試目的,那些損耗明顯大于“最佳”路徑且對接收信號質(zhì)量造成負(fù)面影響的路徑將,我們將其忽略。同樣,延遲較長的路徑,也會產(chǎn)生很高損耗,不需要進(jìn)行模擬。根據(jù)具有相似延遲的一組路徑,以及多普勒頻移效果的統(tǒng)計(jì)可進(jìn)一步簡化模擬。而 Aeroflex 等效于基帶信號的射頻(RF)轉(zhuǎn)換,也許是最簡單的一種方法。
如圖2(a)所示,射頻信道仿真一般采用兩種儀器進(jìn)行測試,即衰落模擬器和加性高斯白噪聲(AWGN)源。衰落模擬器模仿基站與用戶設(shè)備之間隨時間變化的射頻路徑,AWGN信號源模仿其他小區(qū)或用戶產(chǎn)生干擾。
除附加設(shè)備產(chǎn)生的成本外,這種傳統(tǒng)方法還存在以下局限:
· 信號電平不穩(wěn),需要非常仔細(xì)的校準(zhǔn)。
· 外部組件產(chǎn)生介入損耗和延遲。
· 不同測試需要手動改變連接。
· 獨(dú)立的衰落RF信道數(shù)量有限—— 難以滿足軟切換(UMTS)、天線分集和MIMO(多路輸入/多路輸出)環(huán)境的測試要求。
· 模擬組件降低信號質(zhì)量。
· 難以或不可能進(jìn)行精確的重復(fù)測試。(責(zé)任編輯:admin)
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